卓越的元素分析工具
ZETIUM 光谱仪
将 SumXcore 技术（WDXRF与EDXRF 的集成）所带来的符合科学原理的优势驱动型创新融合到 Zetium 平台中，带来更高灵活性、高性能和多功能性。
ZETIUM光谱仪
X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。
Zetium 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。
Zetium 配备了我们最新版本的 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。
针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。
创新的元素分析方法
Zetium平台采用了SumXcore(即多核X射线分析技术)将WDXRF、EDXRF技术集成。这种独特的可能性组合使其在分析能力、速度和任务灵活性方面脱颖而出。
Na - Am 的元素范围
ppm-100 wt% 的浓度范围
为X射线高通量环境专门构建的SDD探测器
可变信号衰减器，以实现优化性能灵活性
高达1 Mcps的高计数率能力
主要规格
通过能谱核集成提高了灵活性、性能和速度
通过采用SumXcore(即多核X射线分析技术)，波谱核和能谱核组合在一个平台上，可并行运行，从而大 幅度地增加分析灵活性并提升性能。
· 通过SumXcore(即多核X射线分析技术)的同步光谱分析将测量时间大大缩短至50%
· 较传统WDXRF更快获取目标精度
· 通过SumXcore(即多核X射线分析技术)更快 获取元素周期表上元素的最低LLD
更高的分析性能
· 记录并采集所有可能会对元素分析结果的所有 意外元素并不增加额外测量时间
· 收集每个样品全光谱图而不影响准确度
检验“鬼峰”
· 波谱和能谱可各自独立分析
· 在一个平台上同时符合波谱和能谱两种规范
· 预防性维护工具
· 强大的备份分析
更强的质量信心
短时间内进行全面微小区域分析和Mapping
微小区域分析和元素分布Mapping是用于材料研究和生产过程故障排除的理想工具，为整体样品分析的光谱仪增加了一项宝贵的功能。这项技术 现在不再局限于研究设备，可用于任何需要的地方。
· 光学部件与样品的紧密耦合(即光管、探测器非常接近样品)
· 同步多元素数据采集，基于FP的无标样分析软件 (Omnian)可进一步进行准确定量
· 不影响波谱核分析
凭借能谱核开展实用快速的分析
· 最大样品直径 35mm
· 0.5mm 的光斑区域
· 步进为 100um
· 照相机和创新的样品定位机制
· 专门设计用于各种不同尺寸不规则形状样品的支架
主要规格
应用包括从单一内嵌物常规定量标准曲线分析到各种 样品类型复杂的多元素分布(定量或定性分析)。在常规的微小区域分析解决方案中，能谱核即可用于微小区域分析也可用于工业批量分析。HiPer微小区域Mapping的光学探测系统将能谱核转变为具有超 高灵敏度的专用微小区域Mapping解决方案。
强大而零漂移的 X 射线管
马尔文帕纳科是全球既生产X射线分析系统，同时又生产高效X射线管的唯一制造商，让我们能够真正优化自己所开发系统的性能。
我们持续创新X射线管的设计，带来了超高的性能和寿命。新型SSTR-mAX X射线管建立在跨越20年的创新传统基础之上。
· SST - 由于紧密耦合陶瓷设计实现的高灵敏度
· 采用ZETA技术的SST-mAX - 通过消除 X 射线系 统中漂移的单一最大问题根源，减少了校准维 护工作
· CHI-BLUE 管窗涂层 - 高50倍的耐腐蚀性，以 及改进的真空严密性，可实现X射线管涂层长 期而耐久，而不影响光管的性能
· SST-mAX50 - 提高轻元素灵敏度，耐用的50um 窗解决方案，利用ZETA和CHI-BLUE技术实现
· 波谱和能谱可各自独立分析
· 在一个平台上同时符合波谱和能谱两种规范
· 预防性维护工具
· 强大的备份分析
更强的质量信心
优异的元素分析技术
Zetium平台的每个方面都已经过精心设计，可提供优异的分析和操作性能，使其成为依赖准确而可靠 的各种XRF分析产品中的真正资产。
· Zetium平台采用新款超快样品交换器，比之前的型号快35%，从而实现快速批量分析并可无缝集成到自动化环境中。
· 使用优先样品位的样品存在感应功能，用户可安排紧急样品插入正在进行的批量测量中，成为下一个测量样品。
· 使用条码阅读器可进行快速无错误样品装载、应用设计和手动输入(例如大量或LOI)。例如，装载和通知128个样品(Hi-Cap样品交换器)可从30分钟缩短到不到2分钟。
灵活的样品处理
· 样品在转入位于X射线管上方的测量位置之前，先 被装载到气锁中。这种进样系统具有许多优势：
· 自动样品类型识别可保护光谱仪免受无意的系统 污染。
· 小容量装载气所锁可加快真空循环时间，减少氦 气的使用。
· 气锁中集成了一个除尘装置，可在灰尘到达光路 之前将其取出，从而显著减少污染的风险并提高 真空稳定性。
· 稳定、持续满功率运行。
· 适用于高通量分析工作环境，直接和/或连续样 品装载可选。
智能进样
· 各种平晶、弯晶和多层膜晶体可用于提高从 Be 到 Am 的元素的分辨率和灵敏度。
· 包括复式探测器和HiPer(高性能)闪烁探测器以及 计数电子设备在内的含有卓越技术的探测器提供 了优异的数据收集速度。
· 包含多达 2个Hi-Per(高性能)固定通道，可同步 测量单个轻元素(B到Mg)，从而提高灵敏度并节 省时间。
· 直接光学定位(DOPS)计数可确保整个系统生命 周期内准确而可再现的测角定位。
优异的精确度和重现性
